首頁 > 計(jì)量檢測儀器 > 顯微熔點(diǎn)儀 > SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀
SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀

SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀

SKU: SGWX-4B

產(chǎn)品介紹

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。 

技術(shù)參數(shù)

  • 熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
  • 最小讀數(shù)：0.1℃
  • 測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）         ±2℃（在200～300℃時(shí)）
  • 配雙目體視顯微鏡
  • 光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)

相關(guān)產(chǎn)品

X4|X5|X6系列顯微熔點(diǎn)測定儀
 X4|X5|X6系列顯微熔點(diǎn)測定儀

SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯
 SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯

SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀
 SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀

RDY-1顯微熔點(diǎn)儀
 RDY-1顯微熔點(diǎn)儀

WRS-1B數(shù)字熔點(diǎn)儀
 WRS-1B數(shù)字熔點(diǎn)儀

WRR熔點(diǎn)儀
 WRR熔點(diǎn)儀

首頁 > 計(jì)量檢測儀器 > 顯微熔點(diǎn)儀 > SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀
頁面執(zhí)行0.076946 秒