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探頭掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LS-AFM

SKU: FM-Nanoview LS-AFM
工作模式 接觸模式、輕敲模式 Z升降臺 步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動控制，最小步長10nm
選配模式 摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力 Z升降行程 15mm（可選20mm，25mm）
力譜曲線 F-Z力曲線、RMS-Z曲線 光學(xué)定位 5X光學(xué)物鏡（可選10X/20X物鏡）
XYZ掃描方式 探針驅(qū)動式掃描，壓電陶瓷管掃描器 攝像頭 500萬像素?cái)?shù)字CCD
XY掃描范圍 70×70um 掃描速率 0.6Hz~30Hz
Z掃描范圍 5um 掃描角度 0~360°
掃描分辨率 橫向0.2nm，縱向0.05nm 運(yùn)行環(huán)境 Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)
XY樣品臺 步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動控制，移動精度1um 通信接口 USB2.0/3.0
XY移動行程 100×100mm（可選200×200mm，300×300mm） 儀器結(jié)構(gòu) 龍門架式掃描頭，大理石底座
樣品載物臺 直徑100mm（可選200mm，300mm） 減震方式 彈簧懸掛式（可選主動式減震臺）
樣品重量 ≤15Kg 　 　

 應(yīng)用案例

   二維光柵.png 二維光柵1.png

  二維光柵/掃描范圍15µm×15µm

 一維光柵.png 一維光柵1.png

 

  一維光柵/掃描范圍50µm×50µm

注意事項(xiàng)：
儀器成套性與可選購件可參考產(chǎn)品原頁面，本頁只提供儀器核心技術(shù)參數(shù)。
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