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FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡 帶光學(xué)定位的CCD觀測系統(tǒng),實(shí)時(shí)觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域

SKU: FM-1000AFM

產(chǎn)品介紹

 FM-Nanoview1000AFM 主要功能特點(diǎn)

  •  掃描探頭和樣品臺集成一體,抗干擾能力強(qiáng);
  •  精密激光及探針定位裝置,更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡單方便;
  •  采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;
  •  馬達(dá)自動脈沖控制驅(qū)動樣品垂直接近探針,實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位;
  •  高精度樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域;
  •  帶光學(xué)定位的CCD觀測系統(tǒng),實(shí)時(shí)觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域;
  •  模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì),便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù);
  •  集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統(tǒng)使用;
  •  彈簧懸掛式防震方式,簡單實(shí)用,抗干擾能力強(qiáng)。
 
友好的軟件界面和操作功能
 
1000型操作界面-13535340797.png
 
 
1. 多通道圖像同步采集顯示,實(shí)時(shí)查看剖面圖;
2. 多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS(f-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能;
3. 可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區(qū)域;
4. 可任意選擇樣品起始掃描角度;
5. 激光光斑檢測系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能;
6. 針尖共振峰自動和手動搜索功能;
7. 可任意定義掃描圖像的色板功能;
8. 支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能;
9. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正;
 
FSM-AFM操作軟件主要功能特點(diǎn)
 
1、可實(shí)時(shí)觀測樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像;
2、具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式;
3、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512;
4、多通道圖像同步采集顯示,實(shí)時(shí)查看剖面圖;
5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS(f-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能;
6、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區(qū)域;
7、可任意選擇樣品起始掃描角度;
8、激光光斑檢測系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能;
9、針尖共振峰自動和手動搜索功能;
10、可任意定義掃描圖像的色板功能;
11、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能;
12、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正;
13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
 
原子力顯微鏡廣泛的應(yīng)用
 
1000廣泛應(yīng)用-13535920481.jpg

技術(shù)參數(shù)

序號 名 稱 參 數(shù)
01 工作模式 接觸、摩擦力(可選配輕敲、相位、磁力、靜電力)
02 樣品尺寸 Φ≤90mm;H≤20mm
03 最大掃描范圍 橫向20um,縱向2um
04 掃描分辨率 橫向0.2nm,縱向0.05nm
05 掃描速率 0.6Hz~4.34Hz
06 掃描控制 XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
07 數(shù)據(jù)采樣 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
08 掃描角度 任意
09 樣品移動范圍 0~20mm
10 馬達(dá)趨近脈沖寬度 10±2ms
11 光學(xué)放大倍數(shù) 4X
12 光學(xué)分辨率 2.5um
13 圖像采樣點(diǎn) 256×256,512×512
14 反饋方式 DSP數(shù)字反饋
15 反饋采樣速率 64.0KHz
16 計(jì)算機(jī)接口 USB2.0
17 運(yùn)行環(huán)境 運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)

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