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介紹原子力顯微鏡(AFM)
余憶童幼時,能張目對日,明察秋毫 見貌小微物,必細(xì)察其紋理,故時有物外之趣 -- 兒時記憶 沈復(fù) 縱觀古今所有的發(fā)明無一不是對自然現(xiàn)象的觀察,進(jìn)而觸發(fā)靈感再經(jīng)研究發(fā)展而生新事物,由此凸顯"觀察"的重要性.隨著科技的發(fā)展進(jìn)入到納米世界領(lǐng)域,而"觀察"這項(xiàng)工作也漸漸遠(yuǎn)超過肉眼,放大鏡,光學(xué)顯微鏡等儀器所能負(fù)荷的范圍.所以原子力顯微鏡(AFM)相應(yīng)而生. AFM簡介 1. 全名 Atomic force microscope 簡稱AFM 2.1986年由G.Bining,C.F. Quate和C.Gerber共同發(fā)明 3.原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在于并非利用原子隧道效應(yīng),而是利用原子之間的凡得瓦力(Van Der Waals Force)作用來呈現(xiàn)樣品的表明特征. 原子力顯微鏡基本原理
就像用手指頭觸摸點(diǎn)字一般,當(dāng)受過訓(xùn)練的手指劃過一排盲文字體時就能讀取其中的意義. AFM的探針代替了手指,精密的移動裝置代替了手指的移動過程
原子力顯微鏡的分類 原子力顯微鏡大致分為三類: 1.接觸式 2.非接觸式 3.敲擊式
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