批量采購 配送方式 技術(shù)咨詢 聯(lián)系我們 打印該頁

探頭掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LS-AFM

產(chǎn)品介紹

            ◆ 實現(xiàn)樣品保持不動，探針移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡；

◆ 樣品尺寸、重量幾乎不受限制，特別適合超大的樣品檢測；

◆ 樣品臺可拓展性強，非常便于進(jìn)行多儀器聯(lián)用實現(xiàn)原位檢測；

◆ 電動控制樣品移動臺和升降臺，可任意編程多點位置實現(xiàn)快速自動化檢測；

◆ 龍門架式掃描頭設(shè)計，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物臺；
◆ 馬達(dá)自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品；
◆ 高倍輔助光學(xué)顯微定位，實時觀測與定位探針以及樣品掃描區(qū)域；

    ◆ 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%

技術(shù)參數(shù)